Журнал наноматериалов и молекулярных нанотехнологий

Фотоэлектрические свойства и анализ поверхности смешанных тонких пленок (SnS2)x (CdS)1-x методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

М.Н. Амрун*, А.Х. Кача, К. Салим и М. Хадрауи

Смешанные тонкие пленки (SnS 2 ) x (CdS) 1-x с различными составами x (x = 1, 0,8, 0,2, 0) были синтезированы методом распылительного пиролиза при температуре подложки 350 °C. В качестве исходных химикатов использовались хлорид кадмия (CdCl 2 ), хлорид олова (SnCl 2 ) и тиомочевина (SC(NH 2 ) 2 ) с различными составами. Состояние химической связи осажденных тонких пленок было изучено с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС). Исследования РФЭС указывают на образование однофазных тонких пленок CdS и SnS2 и смешанной фазы (SnS 2 ) x (CdS) 1-x для x = 0,8 и x = 0,2. Четыре компонента изменения кислорода в химических состояниях, которые различаются по BE, были выделены и изучены в спектре O 1s. Ожидаемая оптическая поглощательная способность и фототок (jph) зависят от концентрации x.

Отказ от ответственности: Этот реферат был переведен с помощью инструментов искусственного интеллекта и еще не прошел проверку или верификацию

Откройте для себя Научные технологии

Основные моменты журнала