Журнал наноматериалов и молекулярных нанотехнологий

Классические и топологические размерные эффекты в тонких пленках SnO2, обнаруженные методом поверхностного плазмонного резонанса

Гриневич В.С., Филевская Л.Н., Максименко Л.С., Матяш И.Е., Мищук О.Н., Руденко С.П., Сердега Б.К. и Смынтина В.А.

Классические и топологические размерные эффекты в тонких пленках SnO _{2 ,} обнаруженные методом поверхностного плазмонного резонанса

Методом поляризационной модуляции электромагнитного излучения исследованы особенности внутреннего отражения, обусловленные поверхностным плазмонным резонансом в наноразмерных пленках, содержащих дефектные кластеры диоксида олова в стехиометрической диэлектрической матрице. Измерены угловые и спектральные характеристики коэффициентов отражения R _s ² и R _ρ ² s- и p-поляризованного излучения и их поляризационная разность ρ=R _s ² –R _ρ ² в диапазоне длин волн λ=400-1600 нм. Полученные экспериментальные характеристики ρ(θ, λ) (θ – угол падения излучения) отражают особенности оптических свойств, связанные со структурой и морфологией пленок. Обнаружены поверхностные плазмон-поляритоны и локальные плазмоны, возбуждаемые s- и p-поляризованным излучением, определены их частотные и релаксационные свойства. Методика исследования поверхностного плазмонного резонанса в пленках диоксида олова оказалась структурно чувствительной.